一种芯片测试筛选设备

本发明公开了一种芯片测试筛选设备，包括支撑座，其呈矩形结构设置，在其顶端设置有通过支撑架连接的储存主体，用于进行芯片的储存堆积工作；还包括；旋转梳理辊，其设置在储存主体的内部，用于对储存主体内部的大量芯片进行梳理工作，保证大量堆积的芯片可以梳理后整齐的到达输送主体的上方进行输送测试工作。该芯片测试筛选设备；旋转梳理辊在储存主体的内部进行旋转的时候，其可以对储存主体内部堆积的芯片进行旋转翻动工作，随着抓板的继续旋转，其便会使得芯片顺着2个抓板之间的弧形结构到达导料机构的顶端，故而保证芯片可以整齐的到达输送主体的上方，被三维扫描测试主体进行测试工作，故而达到对测试的精准度进行保证的效果。