透明元件面形检测方法

本发明公开了一种透明元件面形检测方法。主要解决现有透明元件面形检测方法难以全面且高效地消除寄生反应而实现面形准确检测的技术问题。其在构建完毕透明元件检测系统后，控制所述显示器分别显示相移条纹图和多频条纹图，经透明元件反射后由所述相机对应采集并生成叠加条纹图；然后由叠加条纹图对应计算获取叠加相位并转换为叠加显示器坐标；并提取所述叠加条纹图的强度值并构成时间强度序列，通过相关匹配和非线性优化对应分离寄生反射，完成透明元件前表面面形检测。整个检测过程高效便捷且不受透明元件种类限制，检测准确度高。