缺陷检测方法、装置和电子设备

本申请涉及一种缺陷检测方法、装置和电子设备。所述方法包括：获取检测设备对多个显示面板进行缺陷检测得到的初始缺陷检测结果；该初始缺陷检测结果包括多个显示面板的初始缺陷的特征数据；将各该初始缺陷的特征数据输入预设缺陷识别模型，得到该预设缺陷识别模型输出的各真实缺陷的特征数据；其中，该预设缺陷识别模型根据各该初始缺陷的特征数据从各该初始缺陷中确定该真实缺陷；将各该真实缺陷的特征数据作为最终缺陷检测结果。采用本方法能够提升缺陷检测准确性。