集成半导体器件及封装方法

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集成半导体器件及封装方法
申请号:CN202411676909
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119170592B
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本申请属于半导体技术领域,公开了一种集成半导体器件及封装方法,集成半导体器件包括半桥模块,包括相互连接且沿第一方向间隔的两个桥臂结构,桥臂结构均包括基板、冷却结构及多个半导体芯片,多个半导体芯片设于基板的第一表面,冷却结构覆盖于基板的第二表面;封装结构,连接于两个桥臂结构之间并覆盖于第一表面;连接端子,两个桥臂结构之间通过连接端子导电连接,且连接端子由封装结构一侧延伸而出与外部电路导电连接;第一表面和第二表面分别位于基板在第一方向的两侧,两个基板的第一表面相靠近地设置,两个基板的第二表面相远离地设置。本申请的集成半导体器件及封装方法,能够提升集成半导体器件的整体散热面积,并提高整体功率密度。
技术关键词
集成半导体器件 桥臂结构 半导体芯片 功率端子 封装结构 导电 封装方法 冷却结构 基板 半桥模块 绝缘材料 整体散热 电路 底板 树脂材料 层叠 金属材料 包裹 加热
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