缺陷处理方法、设备、介质及程序产品

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缺陷处理方法、设备、介质及程序产品
申请号:CN202411679272
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119621750A
公开日期:2025-03-14
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种缺陷处理方法、设备、介质及程序产品。该方法包括:首先,获取目标缺陷描述;然后,将目标缺陷描述在预先基于应用程序在不同版本下的产品版本相关信息和对应的系统日志构建的,存储有不同缺陷描述对应的解决方案的缺陷检索库中进行检索,获取目标缺陷对应的目标解决方案。通过这种方法,提高了确定解决方案的效率,减少了产品缺陷定位周期,实现了产品缺陷信息的快速查询。
技术关键词
系统日志 计算机执行指令 大语言模型 处理器 可读存储介质 计算机程序产品 手册 存储器 报告 关键词 电子设备 字段 参数 模块 周期
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