一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质

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一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411719934
申请日期:2024-11-27
公开号:CN119420686B
公开日期:2025-12-19
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质,涉及芯片技术领域,该装置包括:输入组件、输出组件和对比组件;输入组件,用于获取多个测试报文,将多个测试报文输入待测电路;输出组件,用于按照预设后级处理逻辑,生成多个测试报文对应的反馈信号,并向待测电路输入反馈信号,以使待测电路根据反馈信号对多个测试报文进行转发处理,并将处理后得到的实际报文输入输出组件;对比组件,用于在待测电路处理测试报文的过程中,采集多个测试报文中待丢弃报文的数据信息;利用数据信息,剔除多个测试报文中的待丢弃报文,得到剩余报文;对比剩余报文与实际报文,得到第一芯片验证结果。该方案能够实现丢包场景下的芯片验证。
技术关键词
测试报文 丢弃报文 待测电路 芯片验证装置 子组件 数据 芯片验证方法 信号 通信接口 电子设备 可读存储介质 存储器 处理器 逻辑 计算机 场景
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