集成电路封测用具有快速固定功能的测试系统

本发明公开了集成电路封测用具有快速固定功能的测试系统，涉及电路封测测试技术领域，包括检测台，检测台中部安装有传动装置，传动装置上方设置有推板，传动装置上传动连接有载放台，载放台上方设置有集成芯片，还包括有可调节检测机构和缓冲控制机构，可调节检测机构设置在推板下方，缓冲控制机构设置在可调节检测机构上方；通过系统程序化控制伸缩控制器对控制板不同位置的滑动，我们可以灵活地调节缓冲弹簧自身的弹性势能，这一调节机制使得在固定芯片时，冲压块能够根据需要调整对芯片表面的压力大小，而这种压力调节能力不仅有利于确保芯片在固定过程中的稳定性，还能进一步优化固定效果，以适应不同尺寸、形状和材质的芯片。