一种常高低温芯片测试设备

本发明公开了一种常高低温芯片测试设备，包括设备主体及设于设备主体上的预温盘组件、上料机械手组件、料船组件、测试手臂组件及下料机械手组件，上料机械手组件用于将常温的芯片搬送到料船组件上或预温盘组件上，预温盘组件将芯片预热成高温的芯片或将芯片预冷成低温的芯片，上料机械手组件还用于将预温盘组件上的高温的芯片或低温的芯片搬送到料船组件上，料船组件用于输送芯片，测试手臂组件用于将料船组件上的芯片取出进行测试并放回原位，下料机械手组件用于将料船组件上的芯片取出。采用这样的设计方式，可以自动化实现芯片的预热、预冷、芯片的测试以及测试后芯片的取出，从而可以提高自动化程度、降低工人的工作强度、提高生产效率。