基于自适应典型样本学习技术的跨场景皮带缺陷识别方法

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基于自适应典型样本学习技术的跨场景皮带缺陷识别方法
申请号:CN202411841865
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119942061B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于自适应典型样本学习技术的跨场景皮带缺陷识别方法及装置,涉及缺陷检测技术领域。该方法包括:构建支持图像数据集以及查询图像数据集;将支持图像数据集以及查询图像数据集输入缺陷识别基础模型,获得第一支持图像特征以及第一查询图像特征;将第一支持图像特征以及第一查询图像特征输入原型自适应模型进行特征增强;根据支持图像数据集、查询图像数据集和检测缺陷图像数据集构建损失函数;对原型自适应模型进行优化,获得优化原型自适应模型;根据待识别皮带图像数据集,基于缺陷识别基础模型以及优化原型自适应模型进行皮带缺陷识别。本发明是一种基于典型样本学习的仅需少量标注的高效且准确的跨场景皮带缺陷识别方法。
技术关键词
图像 缺陷识别方法 原型 皮带 检测缺陷 数据 计算机可读取存储介质 场景 典型 计算机可读指令 样本 识别设备 缺陷检测技术 识别装置 基础 深度神经网络 相机 特征提取模块 缺陷类别
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