基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法。方法包括：获取功耗数据序列中的各个功耗数据的第一可信度和第二可信度，根据第一可信度和第二可信度，得到各个功耗数据的可信度加权因子，根据功耗数据的可信度加权因子，对所有的功耗数据序列进行加权融合，得到目标数据序列；根据目标数据序列，获取异常测试环境下待测试批次芯片的稳定性测试结果。本发明依据可信度加权因子进行加权融合所得到的目标数据序列，能够使得所获取的异常测试环境下待测试批次芯片的稳定性测试结果更加准确和可靠。