一种针对千万门级FPGA的系统级量产测试系统及方法

本发明公开了一种针对千万门级FPGA的系统级量产测试系统及方法，本发明方法包括：电源树设计、主控FPGA设计、主控FPGA与被测器件交互方案设计、通讯模块设计以及存储模块设计等。本发明通过上位机与测试系统建立通讯，测试系统由主控FPGA通过DDR接收上位机的测试向量，将DDR中的数据下载到被测器件中，再使用主控发送测试激励给被测器件，通过被测器件的回复判断被测器件的质量。通过本发明方法，可以高效完成对对千万门级FPGA内部IOB、CLB、DSP、BRAM等资源测试，完成对FPGA测试覆盖率的进一步保证，提高测试效率，降低测试时间，满足量产测试需求。