一种适用于ARM架构MCU的杂草检测方法及系统

本发明公开了一种适用于ARM架构MCU的杂草检测方法，包括以下步骤：S1、构建轻量化SSD模型：将SSD模型中的VGG网络替换为MobileNet V1网络，并添加额外的网络层与FPN结构改进MobileNet V1的局限性；S2、使用数据集，并将数据集预处理；S3、利用预处理后的数据集，通过TensorFlow框架对改进后的轻量化SSD模型进行训练及验证；S4、采用TensorFlow Lite对训练完毕的模型实施全整型量化处理；S5、获取杂草图像后，应用量化后的轻量化SSD模型对杂草图像进行识别处理，以确定位置。本发明通过构建轻量化SSD模型，显著提升了杂草检测的效率，降低了硬件要求，同时保持了高检测精度，此外采用全整型量化处理，使得模型易于部署且具有广泛适用性，较好的适用于农业领域。