SOI射频器件低温模型建模方法

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SOI射频器件低温模型建模方法
申请号:CN202411877558
申请日期:2024-12-19
公开号:CN120012688A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种SOI射频器件低温模型建模方法,包括:对射频器件在各温度下的直流特性进行建模;建立用于低温S参数仿真的小信号等效电路图;根据小信号等效电路图,从不同温度下的射频实测数据中提取小信号参数;将不同温度提取出来的上述参数进行建模,建立这些参数与温度之间的关系并写入SPICE网表;建立Ft,Fmax与温度之间的联系。本发明针对低温情况,采用不同温度下的提取数据进行建模,建立Ft,Fmax与温度之间的联系,使其能够适用于低温环境。
技术关键词
模型建模方法 射频器件 参数 信号 互联线 数据 关系 电感 电容 端口 电阻 频率 网络
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