一种具有散热功能的测试设备

本发明公开了一种具有散热功能的测试设备，该测试设备包括：工作台、呈阶梯状设置的两安装板和设置在所述安装板上部的若干测试机构；所述测试机构包括底座、第一驱动组件、第二驱动组件、安装架和下压组件；该设备用于解决在对电路板中的芯片进行测试的过程中，芯片会发热，随着测试过程中芯片会产生大量热量，温度的升高会影响测试效果，不能及时对芯片进行散热，就会存在损伤芯片的风险的问题。