一种芯片测试系统及方法

本申请提供了一种芯片测试系统及方法，该芯片测试方法包括：基板管理控制器在接收到目标测试单元接入待测芯片的反馈信号且确定当前芯片测试系统的运行状态满足测试条件时，向目标测试单元发送测试指令；目标测试单元响应于测试指令，对待测芯片的摆放朝向以及电源对地短路状态进行测试，得到第一测试结果并将第一测试结果反馈至基板管理控制器；若第一测试结果为测试通过，则对待测芯片中的FLASH进行测试，得到第二测试结果并将第二测试结果反馈至基板管理控制器。本申请如此设置多个测试单元，各测试单元对应的测试可以并行执行，在系统运行环境符合测试条件时再向对应的测试单元发送测试指令，使测试单元自动完成测试任务，能够大大提高测试效率。