一种自动遍历测试电路、装置、中断请求测试方法和系统

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一种自动遍历测试电路、装置、中断请求测试方法和系统
申请号:CN202411512177
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119396116A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种自动遍历测试电路、装置、中断请求测试方法和系统,其中自动遍历测试电路包括:多路复用器中包含N个测试引脚,测试引脚的总数量N与待测芯片的待测接口的数量相同;以便待测芯片与多路复用器形成多通路连接;多路复用器中还包括至少一个第一控制接口和选择输入端;第一控制接口在第一控制指令作用下真值状态改变,从而控制选择输入端选择目标测试引脚对应的通路导通。本申请在测试电路中加入多通路复用器模拟开关,来代替人工插拔切换引脚的功能。可以实现待测芯片的多接口中断请求自动测试。
技术关键词
待测芯片 测试电路 待测接口 遍历测试装置 中断控制器 控制接口 多路复用器 测试方法 多通路 调试器 电路模块 输入端 晶体管 模拟开关 脚本 终端
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