摘要
本申请公开了一种自动遍历测试电路、装置、中断请求测试方法和系统,其中自动遍历测试电路包括:多路复用器中包含N个测试引脚,测试引脚的总数量N与待测芯片的待测接口的数量相同;以便待测芯片与多路复用器形成多通路连接;多路复用器中还包括至少一个第一控制接口和选择输入端;第一控制接口在第一控制指令作用下真值状态改变,从而控制选择输入端选择目标测试引脚对应的通路导通。本申请在测试电路中加入多通路复用器模拟开关,来代替人工插拔切换引脚的功能。可以实现待测芯片的多接口中断请求自动测试。
技术关键词
待测芯片
测试电路
待测接口
遍历测试装置
中断控制器
控制接口
多路复用器
测试方法
多通路
调试器
电路模块
输入端
晶体管
模拟开关
脚本
终端
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待测接口
矩阵开关
SPI通讯接口
级联电路
对象
待测芯片
计算机可执行指令
代码覆盖率分析
脚本
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DC降压电路
双向电平转换芯片
测试电路
感应装置
芯片测试装置
压合装置
自动化芯片测试方法
测试座