一种芯片测试方法及芯片测试系统

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法及芯片测试系统。该方法包括以下步骤：获取芯片工作状态热成像图像；对所述芯片工作状态热成像图像进行全局色温偏移优化，并进行空间热量分布挖掘，从而构建芯片热量分布图；对芯片热量分布图进行多时刻热量分布追踪处理，并进行动态热量分布演变拟合，构建动态热量分布趋势演变图；获取待测试芯片高清图像；对待测试芯片高清图像进行芯片组件视觉监测，基于动态热量分布趋势演变图进行热量分布趋势渲染，构建芯片组件热量分布趋势渲染模型。本发明通过极限工况测试分析，提高了对芯片性能的评估效率及准确性。