射频芯片测试工位校准方案

本发明公开了一种射频芯片测试工位校准方案，校准方案为：1）先取2颗待测试的芯片，即一号芯片和二号芯片，将两颗芯片分别依次置入测试夹具Socket中2个测试工位Site一号工位和二号工位中；2）对一号芯片进行检测时，先将一号芯片置于一号工位中，之后启动测试夹具Socket，测试夹具Socket会对一号芯片循环测试至少10次。本发明克服了现有技术中存在的传统的射频芯片校准系统在对芯片进行校准过程中易出现较大数据差异的问题。本发明具有测试结果准确可靠和测试过程简单易操作等优点。