摘要
本发明实施例提出一种HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质,涉及芯片技术领域。该方法在串行存在检测集线器中内置非易失存储器,并利用非易失存储器持久化保存串行存在检测集线器在低温、常温和高温下均能正常工作的HID,即最佳HID。在使用串行存在检测集线器时,用户可以直接获取串行存在检测集线器的非易失存储器中的最佳HID,为串行存在检测集线器的HSA引脚接入最佳HID对应的预设电阻值,为用户节省测试时间,提升用户的使用体验。
技术关键词
集线器
电阻值
非易失存储器
常温
芯片测试机
可读存储介质
样本
信号
测试模块
计算机
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