一种基于改进SwinT模型的射线检测图像缺陷识别方法

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一种基于改进SwinT模型的射线检测图像缺陷识别方法
申请号:CN202411931928
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119887660A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种基于改进SwinT模型的射线检测图像缺陷识别方法,包括以下步骤:S1、获取检测工件的待检测图像数据,S2、对待检测图像数据进行预处理;S3、搭建并优化缺陷检测模型,将待检测图像数据输入到缺陷检测模型中进行预测;所述缺陷检测模型采用基于改进SwinT模型,S4、在缺陷预测结果的基础上,进行基于特征的识别,筛选出正确的缺陷目标。本发明能够精确的进行缺陷检测,并降低了操作的难度。
技术关键词
检测图像缺陷 识别方法 缺陷预测 射线 级联检测器 判断缺陷 信噪比 多尺度检测算法 对比度 图像增强 分支 全卷积神经网络 数据 缺陷检测技术 像素 CT切片 生成建议 样本 指标
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