用于芯片性能仿真的方法及装置、芯片性能仿真平台

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用于芯片性能仿真的方法及装置、芯片性能仿真平台
申请号:CN202411950419
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119885993A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片性能仿真技术领域,公开一种用于芯片性能仿真的方法及装置、芯片性能仿真平台,方法包括:对芯片的被验设计和性能基准程序进行配置和启动;加载并执行性能基准程序以对被验设计进行性能仿真,获得仿真结果;解析收集到的仿真结果,获得性能结果,以分析被验设计的性能瓶颈。该方法通过设置分层的系统级仿真架构,使得各层级能够完成层级特定的功能,可以独立开发和优化,提高了仿真流程的模块化程度。在进行不同性能基准程序的性能仿真时,只需替换或修改性能基准程序加载执行阶段的内容,而芯片配置和仿真结果收集解析阶段可以保持不变,从而实现快速切换,提升了性能仿真的效率。
技术关键词
基准 验证平台 仿真平台 程序 芯片 时钟 中央处理器 信号 瓶颈 系统级 层级 入口 阶段 模块 指令 分层 存储器
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