变化检测图斑优化方法、电子设备及计算机产品

本发明公开了变化检测图斑优化方法，电子设备及计算机产品，该方法首先获取变化检测图斑结果的切片数据，包括从第一时相图像、第二时相图像和掩膜图像中裁剪出图斑所在位置区域。接着对切片数据选择性标注，基于主动学习技术选择部分切片数据标注，得到部分切片数据的标注信息。然后将带有标注信息的切片数据输入精化模型，计算其性能数据，判断模型是否达标，若不达标则基于切片数据和标注信息训练模型，重复上述选择标注和判断步骤，直至模型达标或完成所有切片数据标注。最后基于精化模型、切片数据和标注信息得到优化后的变化检测图斑结果。本发明可在高查全率基础上降低虚警率，减少核查工作量，针对具体业务优化。