光学眼镜片的检测方法及检测光路系统

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光学眼镜片的检测方法及检测光路系统
申请号:CN202411965489
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119915489A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种光学眼镜片的检测方法及检测光路系统,涉及光学眼镜片检测技术领域,其中,光学眼镜片的检测方法包括:获得标定波前;根据标定波前获取基准聚焦光斑点阵分布,并作为基准位置;接收待测光学眼镜片,并获取透射光聚焦光斑点阵分布;根据所述基准位置和所述透射光聚焦光斑点阵分布获取聚焦光斑空间波前斜率分布矩阵;结合波前传感算法以及所述聚焦光斑空间波前斜率分布矩阵获得透射光的波前分布和对应泽尼克系数;结合待测光学眼镜片的参数、所述透射光的波前分布和所述对应泽尼克系数获得待测光学眼镜片屈光分布。本发明技术方案提出的光学眼镜片的检测方法内容能够提高检测精度和效率。
技术关键词
光学眼镜片 检测光路系统 光斑 微透镜阵列 透射光 传递系统 双透镜 波前传感器 传感算法 变形镜 基准 多项式 光波前畸变 补偿值 广义逆矩阵 CCD相机
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