一种热电制冷芯片测试用探针台

本实用新型公开了一种热电制冷芯片测试用探针台，包括：探针台主体、温度控制组件和显示屏，所述探针台主体上方一端设置有用于对芯片进行固定的固定机构，所述探针台主体上方一端固接有滑轨，所述探针台主体上方一端滑动连接有显微镜，所述显微镜侧面一端设置有探针组件，所述探针台主体上方一端设置有用于放置芯片的样品台；本实用新型中通过固定机构和松紧调节机构，可以对芯片进行固定，并且固定之后可以改变对芯片固定时的松紧程度，避免了芯片受到过大的压力或应力，防止芯片固定时受到物理损坏，还避免了芯片内部的微观结构发生变化，改变其性能，使得测试结果更加准确，可以真实的反应芯片的事迹性能。