一种可调节式集成电路芯片测试台

本实用新型提供一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试机架、固定于测试机架一端的冲压件以及调节支撑组件，调节支撑组件包括安装座、活动板、横杆、滑动支撑座以及用于驱动活动板横向移动的驱动件，安装座固定安装于测试机架上，安装座上设有供活动板滑动的导向滑轨，驱动件固定安装于活动板顶部，驱动件的末端与支撑座内侧壁相铰接，滑动支撑座滑动安装于横杆外表面，且滑动支撑座的一端设有安装夹具，滑动支撑座的顶部设有驱动杆，通过驱动件带动活动板沿导向滑轨方向滑动，驱动斜槽的移动使得驱动杆带动滑动支撑座沿横杆进行横向移动，进而带动安装夹具上的集成电路芯片的位置发生变化，方便对集成电路芯片不同位置进行硬度冲压测试。