一种芯片外观AOI检测装置

本实用新型涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片外观AOI检测装置，包括基座，所述基座的顶部对称固定设有两个支架，两个所述支架的顶部均固定安装有采集摄像头，所述基座的内部设有滑座，所述基座的内部设有与滑座连接的横向移动机构，所述滑座的顶部对称固定设有两个支撑板，两个所述支撑板之间设有固定框架，且固定框架的内部设有芯片夹紧机构，所述固定框架的两侧分别通过第一转轴和第二转轴与两个支撑板转动连接，所述第一转轴的端部固定设有齿轮，所述基座的内部固定设有向上延伸的固定杆，所述固定杆的上端固定设有齿条。本实用新型能够实现对芯片自动翻面操作，可快速完成对芯片的双面外观检测，提高了检测的效率。