一种探针台芯片CP测试装置

本实用新型提供了一种探针台芯片CP测试装置，其属于测试技术领域，其包括底板，所述底板的下表面固定连接有支架，所述底板的上表面固定连接有支柱，所述支柱的上表面固定连接有工作台，所述工作台的正中间设置有通槽。本实用新型通过设置限位柱和螺纹柱于底板的上表面，所述限位柱和螺纹柱贯穿有工作台，在工作台的侧面转动连接有环状板，并在环状板的侧面固定连接转接柱，并通过移动架固定连接有摄像头，通过转动螺纹柱可以控制固定板的上下位移，并且通过转动环状板控制转接柱的偏转，再通过控制移动架在转接柱上的滑动，进而实现摄像头位置的调控。