一种芯片用多工位检测装置

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种芯片用多工位检测装置，主要包括电力支撑箱，所述电力支撑箱的顶壁安装有加工平台，且加工平台的顶部左侧安装有位置调整组件，所述位置调整组件的内侧底端安装有吸风管，且吸风管的底端安装有吸嘴组件，所述芯片放置组件固定连接于加工平台的顶端右侧。本申请的一种芯片用多工位检测装置通过设置多组吸风管，对芯片进行多工位柔性吸附调节，避免芯片破损，吸嘴组件处于底端可进行位置调整，对吸附的位置进行微调，便于吸附的准确性，进而提高设备的检测效率，通过抓取组件的设置，可便于在芯片托盘放置在芯片放置组件内部时易抓取，避免难以调动，影响后续的芯片托盘进行更换，提高设备的实用性。