X射线荧光分析仪

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X射线荧光分析仪
申请号:CN202421922172
申请日期:2024-08-08
公开号:CN222994369U
公开日期:2025-06-17
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型提供了一种X射线荧光分析仪,包括:第一腔体,所述第一腔体包括多个载台,所述载台用于放置晶圆;第二腔体,包括X射线检测器;移动装置,用以将所述晶圆转移至所述第二腔体内,以使所述X射线检测器检测所述晶圆的标定位置薄膜的膜厚;真空泵,用以抽取所述第一腔体和所述第二腔体内的气体,以使所述第一腔体和所述第二腔体内的气体压力达到预设压力。本实用新型通过在第一腔体内增设载台的数量,当检测与载台同等数量的晶圆标定位置处的薄膜时,所有晶圆可同时转移至第一腔体,以使第一腔体进行抽真空以及破真空,减少检测时抽真空和破真空的次数,进而减少检测时间,提高分析仪的检测效率。
技术关键词
X射线荧光分析仪 X射线检测器 腔体 真空泵 移动装置 载台 晶圆 校准平台 X射线荧光光谱 检测平台 机械臂 气体 压力 探测器 薄膜 处理器 抽真空 光源
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