芯片测试装置、芯片测试系统及收发机测试系统

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芯片测试装置、芯片测试系统及收发机测试系统
申请号:CN202421933450
申请日期:2024-08-09
公开号:CN223229700U
公开日期:2025-08-15
类型:实用新型专利
摘要
本申请提供了一种芯片测试装置、芯片测试系统及专用于收发机的测试系统。该芯片测试装置包括:测试板、与测试板连接的拓展板和多种电压的供电接口;拓展板用于连接不同类型的待测试芯片;测试板上搭建有测试平台,测试平台兼容多种通讯;多种电压的供电接口用于给不同类型的待测试芯片进行供电。本申请实施例提供的芯片测试装置可以兼容对多种类型的芯片的测试,可以减少多种类型芯片的综合测试成本。
技术关键词
芯片测试装置 芯片测试系统 测试板 测试平台 状态指示器 数字转换器 微控制器单元 收发机 测试功能模块 通讯 电压 显示屏 接口 端口 集成电路 电流 数据
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