一种高磁场芯片测试用保护箱

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一种高磁场芯片测试用保护箱
申请号:CN202421979040
申请日期:2024-08-15
公开号:CN223125199U
公开日期:2025-07-18
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开一种高磁场芯片测试用保护箱,用于安装芯片测试载板,高磁场芯片测试用保护箱包括屏蔽箱体和端盖,屏蔽箱体内设有容置腔,容置腔至少一端开口,端盖可拆卸的固定连接在容置腔的开口一侧,端盖上对应容置腔的开口设有通槽,容置槽的墙壁上开设有卡槽,通槽的槽壁上对应卡槽开设有插槽,芯片测试载板上具有电子元器件的一端穿过插槽后插装在卡槽内,芯片测试载板上具有待测芯片的一端位于屏蔽箱体的外部。本实用新型的高磁场芯片测试用保护箱,只需将芯片测试载板上带有电子元器件配合插入至屏蔽箱体的卡槽内即可实现对电子元器件的磁屏蔽作用,操作简单,便于安装,大大提高了测试效率。
技术关键词
屏蔽箱体 保护箱 芯片测试载板 电子元器件 端盖可拆卸 待测芯片 圆筒状结构 墙壁 阶梯 卡槽 圆环状 螺栓 固定架 空腔 矩形
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