一种精准电子元器件检测方法、系统、设备及其介质

本发明提供了一种精准电子元器件检测方法、系统、设备及其介质，其方法包括以下步骤：获取电子元器件的视觉数据、电学数据和热学数据；对电子元器件的视觉数据、电学数据和热学数据进行预处理。本发明通过融合视觉、电学和热学数据全面获取电子元器件信息，利用深度学习算法和卷积神经网络精准识别细微外观缺陷及复杂电学性能指标异常，同时凭借数据采集、预处理、融合、特征提取、模型检测和分类分拣等自动化紧密衔接的流程提升检测速度，还通过监测电子元器件在不同工作状态下多方面性能表现综合考量其性能，从而实现高精度检测、提高生产效率、全面评估元器件质量，满足高精度生产需求、适应大规模生产节奏并避免遗漏潜在故障隐患。