一种存储芯片测试设备

本实用新型公开了一种存储芯片测试设备，本实用新型涉及芯片测试技术领域，包括检测台和两个检测头，每个检测头均包括条形板、一组移动块和一组检测引脚，两个条形板的相对两侧均开设有条形槽，两组移动块分别滑动设置在两个条形槽中，两组检测引脚分别固定安装在两组移动块的相对两侧，两个条形槽的上侧均开设有条形口，每个条形口的中均滑动设置有一组手拧螺栓，每个移动块的上侧开设有螺纹槽，每组多个手拧螺栓的下端分别与同组的多个移动块螺纹连接，两个移动板的相反两端均连接有导线，本实用新型的优点在于：方便对芯片进行连接检测，且后续对于同种型号的芯片，能够直接进行连接检测，减少芯片引脚连接时间，提高检测效率。