组合式直插引脚芯片用模块化单元测试座装置

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组合式直插引脚芯片用模块化单元测试座装置
申请号:CN202422602855
申请日期:2024-10-28
公开号:CN223426803U
公开日期:2025-10-10
类型:实用新型专利
摘要
提供一种组合式直插引脚芯片用模块化单元测试座装置,属于封装芯片老化测试技术领域。包括PCB线路板,PCB线路板上根据直插式引脚芯片的引脚布局、引脚数量和间距排布有多个单元微型测试座,每个单元微型测试座中设置一对弹性测试探针与直插式引脚芯片的一个引脚对应接触进行测试,每个单元微型测试座与PCB线路板为可拆式固定连接。本实用新型针对传统直插式引脚整体式测试座存在的问题,采用模块化设计方式,以直插式引脚芯片的每个引脚为最小设计单元,设计合理结构的微型测试座,根据引脚的多类型布局、引脚间距和数量在PCB线路板上进行快速定位组合安装,提高测试装置的兼容性、经济性和可靠性,实现测试座的模块化、标准化。
技术关键词
测试座 PCB线路板 弹性测试探针 组合式 老化测试技术 封装芯片 布局 定位销孔 插孔 螺钉 间距 T型 外形 锥形
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