一种芯片测试器及芯片测试装置

本申请公开了一种芯片测试器及芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域。本申请的一种芯片测试器，包括测试片和固定块，测试片包括多根测试针，多根测试针间隔穿设于固定块中。本申请的芯片测试器，其上的多根测试针能够通过固定块相对固定，极大的增加了测试片的整体强度，避免测试针在测试过程中产生移位，提高了芯片测试器的测试精度；并且，将测试针穿设于固定块中，固定块能够对测试针进行保护，提高了测试针的强度；同时，固定块能够作为测试针的中间件，缩短了测试针暴露在外的针体长度，有效的避免了测试针在使用过程中发生弯曲或断裂，延长了芯片测试器的使用寿命。