一种磁编码器芯片的自动测试装置

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正文
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一种磁编码器芯片的自动测试装置
申请号:CN202422833048
申请日期:2024-11-20
公开号:CN223565826U
公开日期:2025-11-18
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种磁编码器芯片的自动测试装置,包括底座和芯片本体,底座的上端固设有测试架,测试架的内侧安装有电机座,电机座的内侧安装有步进电机,测试架的上端固设有支撑座,支撑座的上端固设有测试板,测试板上开设有安装槽,且安装槽延伸至支撑座的上端,安装槽内设置有可拆卸的安装板,安装板的内侧设置有测试座,测试座的上端设有测试槽,支撑座内设置有容纳槽,步进电机的输出轴穿设测试架,且位于容纳槽内,步进电机的输出轴上固设有测试头,测试头包括N极磁片和S极磁片,且通过N极磁片和S极磁片构成,N极磁片和S极磁片均呈半圆形,本实用新型结构合理,具有测试范围广、测试稳定且精度高的优点。
技术关键词
磁编码器芯片 自动测试装置 磁片 步进电机 测试头 测试座 支撑座 测试板 移动柱 安装槽 电机座 安装板 半圆形 底座 弹簧
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