一种LPDDR芯片测试装置

本实用新型公开了一种LPDDR芯片测试装置，本实用新型涉及LPDDR芯片测试技术领域，包括测试设备主体，所述测试设备主体的正面上方内嵌有显示屏，测试设备主体的正面下方开设有测试空腔，测试设备主体的正面下方内嵌有与测试空腔相连通的透明玻璃板，测试空腔的内壁顶面设置有测试头，测试头的底部设置有两组左右对称的测试探针，测试设备主体的两侧均开设有与测试空腔相连通的通槽，测试设备主体位于通槽下方的两侧均固接有横板，测试空腔内设置有位于测试探针下方的输送带，本实用新型的优点在于：本实用新型通过设置了贯穿测试空腔的输送带来对LPDDR芯片进行输送，使得测试的过程中，不会有大量的灰尘进入到测试空腔内，提高了测试数据的准确性。