利用Hybrid Bonding和FOWLP技术制备晶圆级系统封装芯片的结构

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利用Hybrid Bonding和FOWLP技术制备晶圆级系统封装芯片的结构
申请号:CN202422642174
申请日期:2024-10-31
公开号:CN223552498U
公开日期:2025-11-14
类型:实用新型专利
摘要
利用Hybrid Bonding和FOWLP技术制备晶圆级系统封装芯片结构,包括晶圆级CIS芯片、硅基承载片、晶圆级CID芯片;晶圆级CIS芯片正面设有粘贴膜层和玻璃层;在晶圆级CIS芯片背面进行减薄处理并形成非键合层;在晶圆级CIS芯片背面设置导电通孔结构;在晶圆级CIS芯片背面设置导电结构;在硅基承载片上设置导电通孔结构;在硅基承载片上设置导电结构;将晶圆级CID芯片和硅基承载片键合在一起,并减薄形成凹槽结构,在其内粘贴第二类芯片;在键合后晶圆上设置第一层绝缘层,在其上设置第一层金属重布线层;在键合后晶圆上设置第二层绝缘层,并设置第二层金属重布线层;在第二层金属重布线层上植球;切割得到单颗Die。该封装结构实现能极大的提高封装效率,显著降低加工成本。
技术关键词
系统封装芯片 导电通孔结构 导电结构 重布线层 凹槽结构 CIS芯片 植入锡球 导电层 高透光 粘贴膜层 间隙结构 封装结构 玻璃 正面
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