一种多功能芯片测试装置

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一种多功能芯片测试装置
申请号:CN202422671540
申请日期:2024-11-04
公开号:CN223308254U
公开日期:2025-09-05
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种多功能芯片测试装置,包括测试台;还包括:所述测试台顶面的一侧设置有异形轮,且异形轮的一侧搭接有弹簧伸缩杆,且弹簧伸缩杆的一端搭接有定位槽,且弹簧伸缩杆的另一端固定连接有转盘,且转盘的一侧固定连接有连接杆;其中,连接杆的一端固定连接有对接块,且对接块的中间开设有插槽,且插槽的一侧滑动连接有锁定块,且锁定块的一端固定连接有挤压弹簧,且锁定块的中间滑动连接有斜块;其中,插槽的中间插接有插杆,且插杆的一侧开设有锁定槽,且插杆的一端固定连接有测试座,便于提高对多功能芯片测试时的精准度,并提高多功能芯片的测试效率,也便于提高该测试装置的适用性,达到延长测试装置的使用寿命的效果。
技术关键词
多功能芯片 测试台 锁定块 测试座 异形轮 弹簧 转动轴 支撑杆 端头 顶端 气缸 限位块 凸块 拉杆 电机
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