一种用于微型芯片的芯片老化测试座

本实用新型公开了一种用于微型芯片的芯片老化测试座，包括底座，底座的顶部中心开设有放置槽，且底座的内部一侧开设有负压风道，并且底座位于负压风道的一端贯穿连接有连接管，还包括：底座的顶部位于放置槽的上方设置有定位组件，其中，定位组件包括对称安装在底座顶部位于放置槽左右两侧的固定块，且固定块的内部滑动连接有滑动杆，并且滑动杆的一端固定安装有定位块，而且滑动杆的外部一侧套设有伸缩弹簧，且伸缩弹簧的一端与固定块固定连接；使得在对芯片进行固定时，可以对芯片进行初步定位，可以对芯片进行校准，使得芯片可以处于放置槽的中心，避免芯片产生歪斜影响固定效果，提升了实用性。