一种芯片测试插座

本申请提供一种芯片测试插座，涉及芯片测试技术领域。该芯片测试插座包括：底座组件、扣合于底座组件上的上盖和下压组件，底座组件朝向上盖的一侧设有容置槽，容置槽用于放置待测试芯片，下压组件包括旋钮、螺柱和下压块，下压块用于压紧待测试芯片，下压块活动设置在上盖上，下压块相对于上盖的活动方向垂直于容置槽的芯片承载面，下压块背离容置槽的一侧与螺柱连接，螺柱的轴线方向平行于活动方向，旋钮转动设置在上盖背离底座组件的一侧，螺柱与旋钮螺纹连接。该芯片测试插座通过在上盖上设置下压高度可调节的下压组件，从而实现对不同厚度的待测试芯片进行测试。