一种测试探针卡

本申请涉及一种测试探针卡，应用在晶圆芯片测试领域，包括设置在控制面板上用于安装晶圆芯片的限位单元，晶圆芯片通过连接单元与控制面板导通。本申请具有的技术效果是：将晶圆芯片安装在限位单元上，晶圆芯片通过连接单元与控制面板导通，省去大量人工焊接的时间，省时省力，同时减少人工将探针尾部直接焊接至控制面板焊点区域时，存在通道错误、绕针和探针高度高于针尖的可能性，提高了晶圆芯片测试效率。