芯片板级测试板、芯片板级测试机台及芯片板级测试系统

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芯片板级测试板、芯片板级测试机台及芯片板级测试系统
申请号:CN202422811888
申请日期:2024-11-18
公开号:CN223426728U
公开日期:2025-10-10
类型:实用新型专利
摘要
公开了一种芯片板级测试板、芯片板级测试机台及芯片板级测试系统。芯片板级测试板包括:基板,具有第一表面和第二表面,第一表面被配置为设置待测芯片;基板上设有过孔阵列,过孔阵列中的至少部分过孔与待测芯片的锡球阵列对应,过孔阵列被配置为将锡球阵列并联导通至第二表面。能够有效缩短芯片的设计封装时间,提升了芯片板级可靠性测试的测试效率。
技术关键词
测试板 板级测试系统 测试机台 插针 锡球阵列 待测芯片 插接头 多层板 基板 填充件 通孔 盲孔 实心 电镀 导体
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