一种芯片测试系统及测试方法

本发明涉及芯片测试技术领域，并公开了具有一种芯片测试系统及测试方法，能够准确调节芯片测试的下压形成，避免压坏芯片。一种芯片测试系统包括机架、芯片存储机构、测试机构以及上料机构。芯片存储机构设置在机架上。上料机构包括平移机构、升降机构、若干芯片抓取机构以及限位机构。若干芯片抓取机构设置在升降机构上。升降机构上设置在平移机构上。平移机构能够驱动芯片抓取机构在水平面内运动。升降机构能够驱动芯片抓取机构上升或下降。芯片抓取机构通过平移机构和升降机构配合，能够在水平面上移动到测试机构上方的任意一个角落，灵活抓取芯片。限位机构能够限制升降机构的最大下降行程，避免驱动芯片抓取机构压坏芯片。