一种芯片颗粒测试生产线

本实用新型提出的一种芯片颗粒测试生产线，涉及芯片颗粒测试技术领域，包括用于传送芯片颗粒的传送梭，靠近传送梭依次排布设置有上料结构、测试机台、下料结构、自动分选机，上料结构和下料结构分别与传送梭分离式的接触；传送梭、上料结构、测试机台、下料结构和自动分选机还与控制系统连接。本实用新型提供的芯片颗粒测试生产线，能够高效快捷的对芯片颗粒进行测试，保证了上料、测试、下料、分选、传送过程的流畅化，实现对多个测试机台的自动化传送原材料，提高生产效率和测试质量，并通过自动化传送原材料的生产线，实现芯片颗粒的自动检测，提升检测效率。