一种芯片电路测试机

本实用新型公开了一种芯片电路测试机，包括底座板和测试夹具，所述横向滑轨的外表面滑动连接有打磨驱动电机，所述打磨驱动电机的输出轴端固定连接有联轴器，所述联轴器的下端固定连接有钻头杆，所述钻头杆的下端为打磨头，所述钻头杆的下端还固定连接有辅助扇叶，本实用新型通过在钻头杆的外侧设置负压集尘罩，当打磨头对芯片表面进行打磨时，负压集尘罩内的负压空气会将打磨产生的灰尘吸收到集尘槽内，避免了灰尘弥漫至芯片表面的接触点上，阻碍信号传输和电气连接，导致测试接触不良或信号失真。