一种芯片测试装置

本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，公开了一种芯片测试装置，包括机箱，机箱内活动安装有载物台，机箱上固定安装有显示器，机箱上还设置有探针机构，探针机构包括安装座，安装座上活动安装有X/Y向调节平台，X/Y向调节平台一侧活动安装有Z向调节平台，Z向调节平台一侧设置有固定杆、调节杆与调节座。通过在Z向调节平台一侧设置固定杆、调节杆与调节座，并将固定杆、调节杆与调节座相互通过对应的连接空心球进行连接，可快速大进程的调节探针末端的位置，并配合气囊、调节螺杆、扩张球囊、第一连接管与第二连接管以及T形通槽，快速地对调节杆与调节座进行角度固定，提升操作便捷性，从而提升探针大进程位置调节的便捷性。