一种自动化芯片检测装置

本发明涉及芯片检测技术领域，具体公开一种自动化芯片检测装置，包括屏蔽室以及输送机构，所述输送机构安装于输送机构后侧，所述屏蔽室后侧转动安装有封闭座，所述封闭座内侧设置有旋转圆台，所述输送机构的后侧设置有推送机构，且所述输送机构的前侧设置有下料座，所述推送机构以及下料座分别位于封闭座的两侧。本发明通过将传统电波暗室改造成小型独立测试屋，具备封闭与开放状态灵活切换的特点，实现了自动上料和下料功能，显著提升了工作效率，推送机构与滑轴结构的设计确保了设备在测试过程中的高效同步，降低了人力成本，同时提升了测试准确性和一致性，整体而言，该装置通过自动化和标准化操作，改善了工作环境，增强了灵活性。