一种双光子显微镜及相关显微成像方法

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一种双光子显微镜及相关显微成像方法
申请号:CN202510039272
申请日期:2025-01-10
公开号:CN119444911B
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请涉及显微镜成像处理技术领域,具体涉及一种双光子显微镜及相关显微成像方法,该方法包括:获取双子显微镜在各焦距下拍摄的断层图像;根据断层图像的局部灰度变化得到断层图像中各像素点的平面频率;根据所有断层图像中相同行、相同列的像素点组成的图像的局部灰度变化,得到相邻断层图像中对应像素点之间的高频插值权重;根据相邻两张断层图像中所有边缘像素点空间分布特征和高频插值权重,得到插值调控权重对各像素点的灰度值进行加权,得到相邻两张断层图像之间的插值图像;根据所有断层图像及插值图像得到双子显微镜的显微成像结果。本申请可提高双光子显微镜的成像质量。
技术关键词
双光子显微镜 像素点 图像 显微成像方法 空间分布特征 三维重构算法 频率 处理器 三维模型 存储器 线性
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