芯片验证方法、装置、服务器、存储介质及程序产品

本发明涉及数字集成电路技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置、服务器、存储介质及程序产品。其中，该方法包括：根据预创建的伪随机数生成环境生成伪随机数序列，伪随机数生成环境为基于验证平台开发库和伪随机数算法库创建的；将伪随机数序列转换为激励序列，并将激励序列发送至待测芯片；接收待测芯片对激励序列进行响应后发送的响应数据，并将响应数据与预期数据进行比较，得到比较结果；当根据比较结果确定待测芯片不符合预期时，根据比较结果对伪随机数生成环境进行调整，直至基于调整后的伪随机数生成环境重新生成的响应数据符合预期。通过实施本发明技术方案，可以有效提高芯片验证的准确性和效率，确保待测芯片的性能符合预期。